特性:
1.各种镀层(多层、合金、多层镍)的精密测量；
2.除平板形外，还可以测量圆形、棒形（细线）等各种形状
3.可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层；
4.可对测量数据进行统计处理，以及和主机进行共同管理；
5.可制作非破坏式膜厚仪的标准板；
6.可检查非破坏式膜厚仪的测量精度;
7.可测量0.01~300的镀层;
8.由微处理器来进行计算、储存、思考；
9.本膜厚仪采用全对话式操作。因此，只要依照测量条件来进行设定就可测量情况，非常简单；
10.由于可储存64个不同的测量情况，所以有相同的测量情况时，就不必再进行设定；
*每个测量条件可储存9999个数据。
11．最多可设定四层镀层，而每一层均可进行统计处理。
例如：测量条件、平均值、最大值、上下限值、直方图均可进 行计算并可由打印机打出，制作测量报告易学，易懂；
12．每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择，均可由 微处理器自动判断、设定；
13．标准板校正值的计算和设定可自动进行；
14．测量数据可由通讯网络来传输,所以能和主机共同进行数据管理;
15．由于分解速度差距分得很细,因此可缩短测量时间;
16．可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金)层;
17．有表面活性化的功能,表面处理起来方便简单;
18．独特的测量台(电测公司专利)是利用条形弹簧方式,使操作方便简单.